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X荧光光谱分析法用于检测土壤重金属的含量

更新时间:2019-02-27 08:10:37 点击数:176

X荧光光谱分析法用于检测土壤重金属的含量

      作为分析仪器中目前检测金属元素的常用的方法一般有以下几种:原子荧光、原子吸收、分光光度法、XRF分析法,ICP及ICP-MS法等。目前土壤检测分析,主要也是检测土壤中重金属含量,现在来看X荧光光谱仪式非常适合用来土壤检测的。


      虽然ICP光谱仪检测范围更广,灵敏度更高,但是因为仪器较大,对于现场使用条件还是相对苛刻一点,而X荧光光谱仪手持式仪器也已经在市面上广泛流传,而前段时间,国家关于863计划项目之“高精度手提式X荧光仪的研发”编号为:2012AA06180301更是推动了手持式荧光光谱仪的应用。


     采用X荧光光谱分析法,利用理论α系数校正基体效应,建立Cu、Cr、Ni、Zn、As、Pb六种元素的校正工作曲线。其各元素的校正系数为:Cr对SiO2的α系数为0.3112,对Fe2O3的α系数为0.2711,对CaO的α系数为3.1803;Ni对Fe2O3的α系数为-0.7443,对CaO的α系数为-0.1252;Cu对Fe2O3的α系数为-0.8223,对CaO的α系数为-0.2943;Pb对Fe2O3的α系数为-0.5052,对CaO的α系数为-0.1167;Zn对Fe2O3的α系数为-0.63,对CaO的α系数为-0.1153;As对于Pb的重叠干扰因子校正系数为0.295285。对Fe2O3的α系数为-0.0001,对CaO的α系数为-0.0001。


     利用荧光光谱仪对突然污染情况进行分析,并建立好完善的X荧光光谱分析模型,通过数据来分析土壤污染情况,对整个土壤的治理有着至关重要的一步。


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