山东东仪光电仪器有限公司研发技术总监及同事共同参加AMPTEK公司 2024年4月7~8日，在上海办公室培训室举办Amptek用户交流会。会议的主题：为了让您更好地使用Amptek产品，充分发挥产品的性能，提高用户应用水平，了解市场动态及AMPTEK未来产品方向。

2024年4月7日，星期日（13:00-17:00），Amptek首席科学家Robert Redus主要针对以下四方面进行讲解：

1、探测器原理及如何通过优化探测器来改善光谱仪器的性能指标。

2、XRF新型应用行业及国内外市场动态。

3、用户技术问题解答。

4、行业动态介绍。

2024年4月8日，星期一（9：00-12:00），针对性问题解答。

山东东仪光电仪器有限公司技术总监同AMPTEK公司首席科学家Robert Redus、AMPTEK全球销售总监Mark Samways。就硅漂移探测器（SDD）在能量色散荧光光谱仪（EDXRF）中的应用极限能量分辨率问题进行了共同探讨，探讨主要内容如下：

1、Q：硅漂移探测器（SDD）的极限能量分辨率是多少？

   A：目前AMPTEK公司最先进的FAST硅漂移探测器（FAST SDD）的理论极限能量分辨率为119eV，实际使用可达到的最低能量分辨率为121eV。

2、Q：做为能量色散荧光光谱仪（EDXRF）的核心器件，硅漂移探测器（SDD）的理论极限能量分辨率是否就是能量色散荧光光谱仪（EDXRF）的极限能量分辨率？

   A：是的，能量色散荧光光谱仪（EDXRF）的理论极限能量分辨率就是它所装配的硅漂移探测器（SDD）的理论极限能量分辨率为119eV。

3、Q：是否有可能通过算法或其他方法使能量色散荧光光谱仪（EDXRF）的能量分辨率小于硅漂移探测器（SDD）的能量分辨率甚至小于100eV？

   A：完全没有可能，这个想法是不可能实现的，能量分辨率是硅漂移探测器（SDD）的特性，算法无法突破硅漂移探测器（SDD）自身的极限分辨率。如果想要得到小于119eV的分辨率，硅漂移探测器（SDD）和能量色散荧光光谱仪（EDXRF）都是无法单独实现的，唯一的方法就是波长色散荧光光谱仪（WDXRF）。

      通过本次AMPTEK公司的用户交流会，山东东仪光电仪器有限公司在技术方面收货颇丰，也明确了硅漂移探测器（SDD）及能量色散荧光光谱仪（EDXRF）极限理论分辨率。在此感谢AMPTEK首席科学家Robert Redus 、AMPTEK全球销售总监Mark Samways科学严谨的解答与交流。